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微电子封装用低应力UV固化粘接剂基材特性解析

时间:2025-05-12   访问量:0

在精密电子器件制造领域,覆膜固化工艺对材料的性能要求极为严苛。AM-314四氢呋喃丙烯酸酯单体凭借其独特的化学结构,成为微电子覆膜固化粘接剂基材的理想选择,为解决封装过程中的界面应力与可靠性问题提供了创新解决方案。

一、材料特性与封装工艺适配性

作为微电子覆膜固化粘接剂基材,AM-314的6cPa.s低粘度特性(25℃)可确保在纳米级电路结构表面形成均匀涂覆层,避免传统高粘度单体导致的流平缺陷。其1.458的折射率与常用封装材料的折光参数接近,能减少光固化过程中的界面散射,提升紫外线能量利用率。

该单体在固化后呈现-15℃的玻璃化转变温度(Tg),赋予固化层适度的柔韧性。这种特性可有效缓冲温度循环引起的热应力,防止微电子元件因材料刚性过高导致的界面分层问题,在BGA封装、芯片贴装等场景中表现突出。

性能参数

典型值

工艺价值

粘度(25℃)

6cPa.s

实现微米级间隙填充

折射率

1.458

减少光能损耗

表面张力

36.1Dynes

提升基材润湿性

酸值

≤2mgKOH/g

降低金属线路腐蚀风险

二、微电子封装场景的技术优势

在覆膜固化工艺中,AM-314作为粘接剂基材展现出三重技术优势:

1. 界面应力控制:相较于常规丙烯酸酯单体,其收缩率降低约40%,可显著减少固化过程对精密焊点的机械应力

2. 材料兼容性:与环氧树脂、聚氨酯等封装材料的相容性达100%,避免相分离导致的界面弱化

3. 工艺稳定性:在氮气保护或真空环境下仍保持稳定固化速率,适配晶圆级封装等严苛作业环境

三、可靠性增强的创新应用

作为微电子覆膜固化粘接剂基材,AM-314通过以下机制提升器件可靠性:

· 扩散控制:分子结构中的四氢呋喃基团可调节单体向多孔介电层的渗透深度,防止过度渗透导致的介电常数变化

· 耐湿热性能:固化后产物的低极性特征使其在85℃/85%RH测试中保持90%以上的粘接强度保持率

· 二次加工适应性:兼容激光切割、等离子清洗等后处理工艺,满足3D封装堆叠的制程需求

四、技术参数与工艺优化建议

对于采用AM-314作为微电子覆膜固化粘接剂基材的配方设计,建议关注以下参数匹配:

1. 光引发剂选择:搭配吸收波长365nm以上的引发体系,避免紫外光对敏感元件的累积损伤

2. 稀释比例:在粘接剂配方中占比15-30%时,可平衡流动性与固化速度的关系

3. 固化能控制:推荐800-1200mJ/cm²的曝光能量范围,确保深层固化完全

当前,该材料已通过多项工业标准验证,其低挥发特性(VOCs含量<0.5%)满足洁净室生产要求,在柔性线路板封装、 MEMS传感器粘接等场景中实现规模化应用。随着5G毫米波器件封装精度的持续提升,兼具低应力和工艺适应性的UV固化基材将成为微电子制造领域的关键创新材料。


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